Chroma ATE Inc.

SoC 测试系统

SoC 测试系统

致茂电子为测试与自动化解决方案的领导厂商,不仅有客制化量测仪器、测试系统、自动化生产线与智慧制造系统的整合能力; 多年来于半导体晶片测试领域,致茂更是深耕多年并拥有众多的产品线,从研发至量产阶段所需的设备如:ATE大型测试系统、IC分选机以及PXI/PXIe小型化测试平台,皆有完整相对应产品提供客户最适合的选择。

致茂完整的半导体解决方案涵盖了不同的晶片测试应用如:消费型晶片 (微处理器、音频晶片、电脑/行动装置周边晶片等)、电源管理晶片 (线性稳压器、直流转换器、交流转换器、LED驱动器等)、射频晶片 (无线网路、蓝芽、行动通讯等)、以及特定领域测试 (影像传感器、无线射频辨识等)。

在自动化分选设备的部分,应用范围则包含温度控制、特殊产品处理技术、裸芯片处理, Pick and Place测试机台、CIS统包解决方案、系统层级测试方案。

致茂完整的半导体测试解决方案不仅协助客户控制测试成本,同时仍维持品质表现,是提高竞争力的最佳方案。

简介手册: 半导体IC测试解决方案 (PDF/8.20MB)

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