Chroma ATE Inc.

封装段测试

封装段测试

光子学测试解决方案主要包含激光二极管的芯片段以及光通讯主动元件 的封装段。凭借致茂三十年以上卓越的电力电子与光学量测技术,加上机 构整合以及温度控制,光学元件可在不同环境温度下进行烧机老化与特性 测试。

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