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Test de niveau d'ensemble
Système de test de burn-in et de fiabilité des diodes laser
Model 58604
- Utilisable pour les tests de burn-in, de fiabilité et de durée de vie
- Modes de contrôle ACC et APC
- Commande et mesure individuelles des canaux
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
- Burn-in, reliability and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel for source and measurement
- Spike-Free sourcing
- Up to 6000 mA per channel and pulsing
Système de test de brûlage et de fiabilité des photodiodes
Model 58606
- Test de brûlage, de fiabilité et de durée de vie
- Courant noir et tension de claquage
- Source de dispositif bipolaire 256 canaux avec tiroir
- Source à biais élevé jusqu'à 80 volts
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