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Chroma 正式推出 3650-S2 系列測試機的全新 UIS(Unclamped Inductive Switching) 功能模組,專為半導體元件的雪崩測試設計,特別適用於第三代半導體氮化鎵(GaN)和碳化矽(SiC)元件。這一新功能模組旨在解決測試長期存在的問題—無法獲得完整且準確的測試數據與波型資料。
more隨著全球邁向2050淨零碳排目標,致茂電子推出更高效、節能的測試解決方案,以促進綠色能源產業發展,並推動產業向淨零排放目標邁進。Energy Taiwan 2024(10月4-6日),我們將於台北南港展覽館2館1樓,台灣國際智慧儲能應用展區(攤位號:P0401a)展示最新量測技術。
more第二屆2024致茂精密機械與量測技術論文獎由致茂文教基金會主辦,工業技術研究院協辦,從2023年6月開跑,歷經9個月,於2024年3月14日決賽審查並舉行頒獎典禮與晚宴,邀請產學研菁英齊聚一堂為得獎者讚揚。本屆投稿篇數較第一屆成長55%,學生參與熱絡,分別來自25所大學,及35個研究所科系;主題涵蓋:半導體光學檢測技術、電能轉換與驅控技術、電力電子關鍵元件及零組件、電動車動力系統(Powertrain)測試技術、熱傳材料(Thermal Interface Material) /熱阻量測技術、微米級精密機
more致茂電子光子晶片燒機及可靠度測試系統Model 58604榮獲2024 TOSIA Award傑出產品獎殊榮,此一獎項由台灣光電暨化合物半導體產業協會頒發,依據產品銷售地區廣泛性、產業效益與行銷亮點進行評分,是對產品創新性和卓越性能的高度肯定。
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- 完整的教育訓練
- 貼心完善的福利制度
專業經理人的組織管理,激發員工潛力、創意,讓員工充份發揮所長,成為致茂茁壯發展的原動力。