La fabrication de semi-conducteurs est une industrie qui évolue rapidement. Alors que les dispositifs deviennent de plus en plus intégrés et multifonctionnels, les équipements doivent être conçus pour résister à plusieurs générations de dispositifs et d'applications. Avec une variété d'options disponibles telles que les tests de convertisseur AD/DA, ALPG pour les tests de mémoire, les PE haute tension, les tests de chaîne de balayage multiple et les tests analogiques, le Chroma 3650-S2 offre une large couverture pour différents types de dispositifs avec des configurations flexibles. Le système est particulièrement adapté au test des puces et des circuits intégrés de gestion de l'alimentation. Avec son offre diversifiée de cartes VI à masse flottante, HDDPS2, HVVI, PVI100 et MPVI, le 3650-S2 peut couvrir les exigences des tests de haute précision, haute tension et haute intensité.

Le haut débit et les capacités de test en parallèle du testeur 3650-S2 constituent la solution la plus rentable pour les entreprises sans usine, les IDM et les centres de test. Avec une gamme complète de fonctions de test, une grande précision, des outils logiciels puissants et une excellente fiabilité, le Chroma 3650-S2 est la solution de test pour toutes vos applications de triage de plaquettes, de microcontrôleurs, de circuits intégrés (IC) analogiques et de dispositifs SoC grand public.

Le haut débit et les capacités de test en parallèle du testeur 3650-S2 constituent la solution la plus économique pour les entreprises sans usine, les IDM et les centres de test. Avec sa couverture de test complète, sa haute précision, ses outils logiciels puissants et son excellente fiabilité, le 3650-S2 est idéal pour tester les dispositifs de gestion de l'énergie, les dispositifs analogiques, les semi-conducteurs composés et les dispositifs MCU.

L'électronique à broches parallèles puissante et polyvalente du Chroma 3650-S2 peut effectuer des tests paramétriques identiques sur plusieurs broches simultanément. Le 3650-S2 intègre 64 broches numériques sur une seule carte LPC. Chaque carte LPC contient 16 circuits intégrés Chroma PINF haute performance qui prennent en charge un générateur de timing à 4 canaux.

Le circuit intégré du contrôleur local gère l'allocation des ressources et la lecture des résultats, réduisant ainsi les frais généraux du contrôleur du système. La conception de mappage de n'importe quelle broche à n'importe quel site du Chroma 3650-S2 offre jusqu'à 32 sites avec des capacités de test parallèle à haut débit pour stimuler la production de masse avec une disposition flexible et intuitive.

L'industrie des semi-conducteurs évolue rapidement et les équipements doivent être conçus pour survivre à plusieurs générations de dispositifs et d'applications afin de justifier leur coût de possession. Avec une variété d'options, comme le test des convertisseurs AD/DA, ALPG pour les tests de mémoire, le PE haute tension, le test des chaînes de balayage multiples, ainsi que des options analogiques, le Chroma 3650-S2 garantit qu'il continuera à vous servir pendant de nombreuses années.

L'architecture de la plateforme Chroma 3650-S2 permet d'intégrer facilement des instruments dédiés développés par des fournisseurs tiers pour des applications spécifiques. Le système repousse les limites des tests en couvrant une gamme de dispositifs encore plus large que jamais auparavant en tant que système de test de production à faible coût.

Grâce à sa conception compacte de testeur avec une tête de test refroidie à l’air, le Chroma 3650-S2 offre un débit élevé dans un ensemble densément intégré utilisant un espace minimal au sol. Avec un manipulateur en option, le 3650-S2 peut être utilisé à la fois pour les tests de boîtiers et de plaquettes.

Le Chroma 3650-S2 dispose d'une puissante suite d'outils logiciels utilisant la plateforme logicielle intégrée Chroma (CRISP). En plus de sa fonction de développement de test facile à utiliser, CRISP couvre tous les besoins en matière de débogage de test, de production et d'analyse de données. CRISP intègre également toutes les fonctions logicielles pour le développement de programmes de test, le contrôle de l'exécution des tests, l'analyse des données et la gestion des testeurs dans un seul et même logiciel. Basé sur le système d'exploitation Microsoft Windows et utilisant le langage de programmation C++, CRISP fournit aux utilisateurs des outils GUI puissants, rapides et intuitifs. Dans l'outil Projet IDE, les développeurs de tests peuvent facilement passer du modèle standard aux modèles définis par l'utilisateur et à l'éditeur de code C++ pour créer rapidement des programmes de test et les implémenter automatiquement sur plusieurs sites pour des tests parallèles. De plus, CRISP fournit également des convertisseurs de programmes de test et de modèles de test pour faciliter la conversion des tests d'autres plateformes de test au format 3650-S2.

Le contrôleur d'exécution des programmes de test est équipé de deux outils commutables, l'outil de contrôle du système et l'outil Planifier le débogage, qui permettent aux utilisateurs de travailler plus efficacement en mode normal ou en mode débogage. Dans l'outil Planifier le débogage, les utilisateurs peuvent contrôler l'exécution du programme de test en définissant un point d'arrêt, une étape, une étape d'entrée, une étape de sortie, une reprise d'exécution, une surveillance de variable et une modification de variable. Pour le débogage des tests et l'analyse des données, CRISP propose une multitude d'outils logiciels utilitaires. Les outils Journal de données, Forme d’onde et Portée sont conçus pour permettre un affichage clair des données mesurées et des formes d'onde numériques. Pour trouver la marge paramétrique, les outils SHMOO et Marge de broche permettent de déboguer facilement en mode automatique ou manuel. Les outils Carte de plaquettes, Résumé, Histogramme et STDF sont très utiles pour recueillir efficacement les résultats des tests et analyser la caractérisation paramétrique.

Les outils Moniteur de condition de test et Éditeur de motif offrent des fonctions supérieures pour le débogage en cours d'exécution et permettent aux utilisateurs de modifier les conditions des tests ou les données des motifs sans interrompre les tests ni modifier les fichiers source. CRISP est également livré avec un outil ADDA et un outil Carte de bits pour les options analogiques et ALPG. Avec l'outil ADDA, les utilisateurs peuvent non seulement visualiser les résultats des tests AD/DA avec l'outil graphique, et ils peuvent également créer facilement leurs propres motifs ADC. Cet ensemble complet d'outils GUI puissants répondra incontestablement à tous vos besoins en matière de débogage de test et de génération de rapports de test.

L'outil OCI est la solution de CRISP pour la production de masse. Il permet un fonctionnement facile et correct, ce qui est la condition la plus importante pour la production. Les programmeurs peuvent régler l'outil OCI à l'aide du menu de configuration de la production afin de satisfaire à l'avance aux exigences de l'environnement de production. Il ne reste plus à l'opérateur qu'à sélectionner le processus prévu et à commencer la production en série.

Le Chroma 3650-S2 fournit plusieurs pilotes pour les communications avec le manipulateur et le sondeur via l'interface GPIB et TTL. Les manipulateurs et sondeurs pris en charge sont CHROMA, SEIKO-EPSON, HONTECH, SHIBASOKU, MULTITEST, ASECO, DAYMARC, TEL, TSK et OPUS. Le 3650-S2 offre aussi une solution de carte d'adaptation pour les plateformes de test existantes afin de faciliter la migration des plateformes de test et de réduire les coûts pour les utilisateurs. Cette carte adaptatrice permet au 3650-S2 d'accepter directement les cartes DIB et de sonde d'autres testeurs, ce qui permet d'économiser le coût de fabrication de nouvelles cartes de charge et de sonde.

Chroma offre un support d'application aux clients nouveaux et établis. Sur demande, Chroma peut fournir un support personnalisé conçu autour de vos besoins spécifiques. Que vous ayez besoin d'augmenter votre production, que vous souhaitiez capitaliser sur les opportunités de marché émergentes, améliorer la productivité ou réduire les coûts de test grâce à des stratégies innovantes, l'équipe mondiale d'assistance client de Chroma s'engage à créer des solutions rapides et efficaces pour vous.