Chroma美國矽谷營運中心啟用
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AconstituentcompanyintheFTSE4GoodIndexSeries
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AIServerPowerBBUTesting
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Chroma'sReliabilityTestSolutionsforSiPh/PICManufacturing
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Chroma'sOne-StopBatteryCellCharge/DischargeTestSolutions
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半導體/IC測試解決方案
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自動光學檢測解決方案
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電力電子測試解決方案
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伺服器電源&BBU測試解決方案
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電動車測試解決方案
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電池測試及自動化解決方案
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儲能與電力轉換系統測試解決方案
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LED&驅動器測試解決方案
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最新消息

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04 Nov 2025

致茂電子安規實驗室獲得 IECEE CTF認可，成為符合國際標準之電氣安全測試實驗室

致茂電子(Chroma ATE Inc.)安規實驗室於2025年8月18日正式通過SGS評鑑，成為符合國際標準的CTF測試實驗室(Customers' Testing Facilities)，簡稱IECEE CTF安規實驗室。本次認可依據國際標準 ISO/IEC 17025:2017標準 (部分適用章節)與 IECEE OD-2048 客戶測試實驗室認定規範進行評鑑，象徵該實驗室在技術能力與品管方面達到高度可信標準，具備提供國際級電氣安全測試服務的能力。

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27 Oct 2025

《Chroma 伺服器電源與 BBU 測試解決方案》新介紹手冊發佈，現已開放免費下載！

隨著雲端運算、人工智慧(AI)與高效能運算(HPC)的快速發展，資料中心對伺服器電源與電池備援模組(BBU)的可靠性與效能要求日益嚴苛。因應高密度運算環境的測試挑戰，Chroma全新出版《伺服器電源與BBU測試解決方案》介紹手冊，提供多樣的測試設備與自動化測試方案，滿足產業中不同開發製造階段使用，現已正式上線，歡迎下載！

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25 Aug 2025

從研發到量產 – Chroma SLT 解決方案，加速轉化流程並提升良率

以大範圍溫度控制、高良率與彈性化測試能力，賦能先進封裝應用

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24 Jul 2025

IFEC 2025 國際未來能源總決賽 於Chroma總部舉行

致茂提供量測設備與實驗室，支持全球青年技術創新能量

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MEDICA2025

MEDICA 2025

  • 日期： 2025.Nov.17 – 2025.Nov.20
  • 地點：Mess Düsseldorf , Düsseldorf, Germany
  • 攤位號：C50-1
 SEMICONEuropa2025

SEMICON Europa 2025

  • 日期： 2025.Nov.18 – 2025.Nov.21
  • 地點：Messe München, Munich, Germany
  • 攤位號：Hall B1 375

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電池放電測試方案—減少搭接瞬間突波電流 應用案例

電池放電測試方案—減少搭接瞬間突波電流

Dec-10-2024
電力電子 電池
本文將以Chroma 62180D-600為範例，介紹若雙向直流電源與電池搭接這個環節沒有適當的設定，突波電流可能過大並導致Relay損壞，甚至待測物和設備也有損壞風險。本文提供一個應用手法，以降低突波電流的方式可以減少電容值或是降低電壓差。

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ReliabilityTestingandBurn-inOptimizationforSemiconductorLasersandOptoelectronics 線上研討會

Reliability Testing and Burn-in Optimization for Semiconductor Lasers and Optoelectronics

Jul-16-2024
半導體 光子學
In this webinar, you'll learn about the methodology for reliability qualification and optimizing burn-in. You'll also learn about the range of reliability and burn-in hardware on the market, and newly available reliability-test-as-a-service options.

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