半導體/IC測試解決方案

致茂電子為測試與自動化解決方案的領導廠商，不僅有客製化量測儀器、測試系統、自動化生產線與智慧製造系統的整合能力；多年來於半導體晶片測試領域，致茂更是深耕多年並擁有眾多的產品線，從研發至量產階段所需的設備如：ATE大型測試系統、IC分選機以及PXI/PXIe小型化測試平台，皆有完整相對應產品提供客戶最適合的選擇。

致茂完整的半導體解決方案涵蓋了不同的晶片測試應用如：消費型晶片 (微處理器、音頻晶片、電腦/行動裝置周邊晶片等)、電源管理晶片 (線性穩壓器、直流轉換器、交流轉換器、LED驅動器等)、射頻晶片 (無線網路、藍芽、行動通訊等)、以及特定領域測試 (影像傳感器、無線射頻辨識等)。

在自動化分選設備的部分，應用範圍則包含ATC與PTC溫度控制、大型陣列封裝晶片(LAP: Large Array Packaging)處理技術、裸芯片處理、Pick and Place測試機台、CIS統包解決方案、系統層級測試方案。致茂完整的半導體測試解決方案不僅協助客戶控制測試成本，同時仍維持品質表現，是提高競爭力的最佳方案。