Behind Every SEMICONDUCTOR Breakthrough
Chroma 致茂電子參與SEMICON China 2024 中國國際半導體展，將展示一系列創新的半導體測試解決方案，專注於AI 人工智慧、高效能運算(High Performance Computing, HPC)晶片、汽車半導體與AIoT 等運用，以滿足不斷發展的半導體測試需求。
先進SoC/Analog測試解決方案
Chroma 3650-S2 SoC/類比測試系統可滿足現今高電壓、大電流、與複雜數位控制的Power IC測試需求，提供多達768電源或數位通道，高達3000V或320A的供電能力，200Mbps數據速率與300ps EPA等，是測試鋰電池管理IC、電源管理IC、以及GaN與SiC相關Power IC的理想選擇。
Chroma 3680先進SoC測試系統有效滿足人工智慧(AI)與車用等尖端科技晶片的測試需求，可提供高達2048個數位元通道，數據速率可達1Gbps，支援高達16G SCAN向量存儲深度，並提供110dB SNR及-120dBc THD的高精度AD/DA測試模組，以及多種測試模組供使用者選擇，可同時完成數位邏輯、參數測試單元、電源、記憶體、混合訊號、RF射頻訊號等測試。
RF射頻晶片測試解決方案
Chroma 3680/3380/3300 ATE 測試系統整合旗下ADIVIC MP5806S，即為完整的RF 射頻晶片測試方案，並已通過客戶量產驗證，具備S Parameter & Noise Figure 功能可完整測試FEM/PA/Switch/LNA 等零元件，並支援Bluetooth、Wi-Fi、NB-IoT、 GPS/BeiDou 等(IoT)通訊標準和Tuner 應用，內含300K~6GHz全頻覆蓋之超高頻寬VSG/VSA模組，廣泛應用於各式無線通訊標準。2024年新推出3680 HDRF2，為MP5806及3680帶來更高整合性，並具備32RF Port, 4 VST RF功能，可提供Multi site & direct mount RF 測試解決方案。
超低溫測試解決方案
Chroma A310002 超低溫測試系統提供-70~+150℃ 穩定的三溫(Tri-Temp)測試溫控範圍，熱消散功率可達1,000 Watt，可應用在各種嚴峻的溫度測試，與Chroma 3200 多元化SLT 測試分類平臺(Versatile SLT Test Platform)結合，可提供多站SLT 測試平臺在產線使用，另可搭配軟體工具CVOT(Chroma Virtual Operation Tools)，輕鬆掌握生產資訊與實行良率提升。Chroma 超低溫測試解決方案可滿足多種測試應用產業，例如：汽車半導體晶片、人工智慧與資料中心、圖形處理器、加速處理單元、高效能計算、航空與國防等測試應用，可確保晶片在嚴苛環境下運作無虞，是上述產品可靠測試的最佳選擇。
2D/3D晶圓量測系統
Chroma 7980/7981是專為奈米級之2D/3D關鍵尺寸之精密量測而設計；採用專利BLiSTM整合量測技術，達到次奈米的解析度。7980/7981可提供專為先進封裝應用而開發的演算法和UI，整合特殊設計之平臺，實現高速量測和快速對焦之非接觸式表面輪廓分析；且具備大面積拼接能力，可滿足不同應用需求。Chroma 7980/7981已成功用於TSV/VIA, RDL, Probe Mark, Overlay, Sub-um Surface Profile, etc.，並受全球頂尖客戶所採用。
SEMICON China 2024(3月20 - 22日)，致茂電子將於上海新國際博覽中心(攤位: N4館N4631)，我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢，期待在此年度盛會中與您見面。