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致茂電子老化測試設備,適用於高強度、信賴度之需求,可依客戶需求打造串接或並接模式,提供長時間、耐溫、具有延展性的不同系統規模,可搭配不同訊號介面: LVDS、eDP、TTL、SPI、MCU,系統軟體具備可程式化的信號、電源、時序等功能,即時監控電壓電流讀值與偵測異常,並建置生產履歷紀錄,可依據各式老化爐體機構進行系統配置,幫助生產管理並提升效率,提供彈性化且完整的測試方案。
 

老化燒機測試方案

eDP信號圖像產生卡 Model27010P-04+A270152
eDP信號圖像產生卡
Model 27010P-04+A270152
  • OCP, OVP, UCP, UVP保護機制
  • 信號依循eDP 1.4規範標準
  • 支援1, 2, 4 Lane eDP輸出
  • 支援2組獨立AUX與HPD通道
LVDS信號圖像產生卡 Model27010P-04+A270154
LVDS信號圖像產生卡
Model 27010P-04+A270154
  • OCP, OVP, UCP, UVP保護機制
  • 信號依循LVDS規範標準
  • 支援1, 2, 4 CH LVDS輸出
  • 可設定6, 8, 10 bits
圖像產生卡 Model27010P-02+67396
圖像產生卡
Model 27010P-02+67396
  • 同時支援4通道LVDS, TTL, SPI, MCU信號輸出
  • 提供軟體控管所有測試程序與信號電源參數
  • LVDS輸出頻寬可支援2 link 270 MHz x 4ch
  • TTL可支援至1366x768@60Hz
圖像產生卡 Model2701007
圖像產生卡
Model 2701007
  • 2 Channel sequence up to 270Mhz
  • VDD/VBL提供過電流保護機能
  • VBL/Vdim調光設定支援
  • LED顯示目前之工作狀態
圖像產生卡 Model2701020
圖像產生卡
Model 2701020
  • 2 Channel, 4 Channel Programmable
  • 可同時輸出2 Channel/2組
  • 4 Channel sequence up to 330Mhz
  • LED顯示目前之工作狀態
eDPBIST模組 ModelA270149
eDP BIST模組
Model A270149
  • 支援eDP進入BIST模式設定信號
  • VDD, VBL電源設定提供
  • VDD, VBL提供過電流保護機能
  • 整合PG Master軟體進行各參數設定
eDPGenerator ModelA270141
eDP Generator
Model A270141
  • 支援eDP進入BIST模式設定信號
  • VDD, VBL電源設定提供
  • VDD, VBL提供過電流保護機能