Chroma 3110-FT為一台適用於IC終端測試(Final Test)工程產品特性及測試開發用途之測試分類設備。

3110-FT支援多種晶片測試，可支援的晶片尺寸從3x3mm到45x45mm。亦可加選遠端監控功能，操作者得以在任何地點透過網路操作以增加設備使用率。3110-FT三溫測試分類機同時包含預溫區，可改善測試時間及產出；配有2個自動分料盤及2個手動分料盤，在僅1.4m²的空間發揮最佳的IC分料能力以節省成本與時間。

整合Chroma混合型冰水機與TEC致冷晶片溫度控制器後，3110-FT可於進行測試三溫測試時，同時控制殼溫及接面溫度。

3110-FT可支援大部分產業的標準通信介面以及提供不同種類測試設備的對接方式。可精準控制溫度範圍從-40℃到125℃。具有易於操作的軟體介面以及可快速更換待測產品之設計。將可大幅縮短停機時間而進一步提高使用效率及產能。