本eDP BIST模組，可提供面板進入BIST模式需要的信號與面板所需電源。搭配上Chroma Aging System可提供eDP面板老化完整檢測方案。模組採抽櫃式爐體架構，每個Rack可透過控制器進行多項燒機測試功能。本模組可整合電控、信號，並經過簡易之人機操作介面，以最短之時間完成最強大之功能測試。