為因應未來IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更複雜功能的IC晶片，Chroma新一代VLSI測試系統3380D/3380P/3380除採用更彈性架構外，整合密度更高且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應高同測(High Parallel Test)功能，除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可並行測512個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。
3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機台性價比。
3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上，長期以來皆已於中國市場獲得廣泛印證。
滿足各種應用範圍的晶片測試
Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.
