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パッケージレベル試験システム
Photonics Module Test System
Model 58625
- All-in-one test system
- Flexible test station arrangement
- Precise temperature control -20~85℃
- Large beam angle measurement
レーザーダイオードバーンイン&信頼性テストシステム
Model 58604
- バーンイン、信頼性及び寿命試験に適用可能
- ACC及びAPC制御モード
- 個々のチャネルの駆動と測定
- チャンネルあたり500mA電流を駆動
- 125℃までの正確な温度制御
- 個々のモジュール動作
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
- Burn-in, reliability and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel for source and measurement
- Spike-Free sourcing
- Up to 6000 mA per channel and pulsing
Photodiode Burn-in and Reliability Test System
Model 58606
- Burn-in, reliability and life test
- Dark Current and Breakdown Voltage
- 256 channels Bi-polar device source per drawer
- High bias source to 80 volts
レーザーダイオード特性評価システム
Model 58620
- 端面発光レーザーダイオードのフルターンキーテストシステム
- 他のレーザーダイオード試験器と互換性を持つ大容量キャリア
- ファイバ結合試験用のオートアライメント機能搭載
TO-CAN/CoC Burn inテストシステム
Model 58603
- Burn inテスト、信頼性テスト、ライフテストを提供
- 各システムは最大10個のモジュールテストを提供
- 自動電流制御モード(ACC)と自動電力制御モード(APC)に対応
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