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ギャラリー リスト ウェーハレベル試験システム Short Pulse Photonics Device Probing Test SystemModel 58636 Series Nanosecond-scale pulse driving and measurement Drive heterogeneous integration samples like VoS (VCSEL on System), and VoD (VCSEL on Driver) with digital control Patented two-in-one optical head design fetches all LIV (Light-Current-Voltage), wavelength, and near-field optics analysis data in one touchdown Multi-site and multi-die support enhance test efficiency お問合せカートに入れる Photonics Wafer Probing Test SystemModel 58635 Series Up to 6" wafer Support both QCW and CW operation LIV test, Near Field test, Far Field test, LIV-λ & NF two-in-one test お問合せカートに入れる ウェーハチップ両面検査システムModel 7940 両面同時カラー検査 最大6インチウェーハハンドリング可能(検査エリア8インチ) 自動ウェーハアライメント機能 ウェーハ形状/エッジ認識機能 欠陥検出率99%以上 お問合せカートに入れる
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