3650-EXは、ファブレス、IDM、テストハウスの対して費用効果の高いソリューションを提供するために、高いスループットと多数マルチサイトテスト能力に対して特別設計されたテスターです。高機能、高精度、パワフルなソフトウェアツール、及び高信頼性を持つ3650-EXは、コンシューマデバイス、高性能マイクロコントローラ、SoCデバイスのテストに対して理想的なテスターです。

3650-EXは、テスターシステムのコスト削減によってだけではなく、より高いパラレルテスト能力で、より多くのデバイスをより速くテストし、より低いテストコストを実現します。洗練されたハード及びキャリブレーションシステムにより、3650-EXは他の低コスト自動検査装置に比べて、より優れたタイミング精度を持っています。また、3650-EXのパターンジェネレータは最大64Mのパターンインストラクションメモリを有します。ベクタメモリと同じ容量のメモリを持つことにより、3650-EXはそれぞれのベクタに対してパターンインストラクションを加えることが可能です。更に、パワフルなシーケンシャルパターンジェネレータは、複雑なテストベクタの多種多様な要望に応えるために、様々なマイクロ命令を提供します。また、ハードウエアのパーピン構造と、境界のないフレキシブルなサイトマッピングは、高いスループットのマルチサイトテストのためにデザインされています。最大1024のデジタルピン、96のデバイス電源、パーピンPMU、ミックスシグナルとアナログテスト能力により、3650-EXは費用効果の高いテストソリューションで、高いパフォーマンスと高いスループットの組み合わせを提供します。

パワフル、且つ用途範囲の広い3650-EXのパラレルピンエレクトロニクスは、複数ピンで理想的なパラメトリックテストを同時に実行することが可能です。3650-EXは1スロットに128のデジタルピンを搭載しており、それぞれのピンコントロール基板には、タイミング発生器をサポートしている高いパフォーマンスのピンコントロールLSIが搭載されています。また、パラレル測定機能回路はプログラムの設定や測定結果の読み出しを管理し、システムコントローラのオーバーヘッド時間を削減します。任意のピン・マッピングや任意のサイト・マッピング設計を用いることにより、3650-EXは最大512サイトまでの高スループットパラレルテストが可能となり、よりフレキシブルでより簡単なレイアウトで量産能力を拡大することが可能です。

半導体製造は動きの速い産業であり、より多くのデバイスが様々な機能を搭載し続けています。主要となる装置は、複数世代のデバイスやアプリケーションに使用出来るようにしなければなりません。3650-EXは、様々な利用可能なオプション（AD/DAコンバータテスト、メモリテスト向けALPG、高電圧PE、マルチスキャンチェーンテスト、VI45 & PVI100アナログテストオプション、HDADDAミックスシグナルテストオプション）を用い、フレキシブルな設定により、様々な種類のデバイスをテストすることを可能にします。更に、Chroma 3650-EXプラットフォームアーキテクチュアは、特別なアプリケーションに対して、容易に装着することが可能な装置を、3rdパーティーで開発し利用することができます。今までの低コスト製造テストシステムの可能性よりも、より広範囲のデバイスまでカバーし、テストの境界を広げることが可能です。

測定機能の自由な組合せが可能な3650-EXは、より広いアプリケーションへ対応することが可能となるPXI装置をサポートします。設計検証にPXI装置を使用するユーザーは、製造時に3650-EXへPXI装置を直接組み込むことが可能であり、設計時と製造時に同じPXI装置を使用することにより、設計時と製造時の間の相関の問題を減らせるでしょう。また、3650-EXは、継続的にAudio、Video、RFの様なPXIソリューションを統合しています。その際に、ハードウエアの統合だけではなく、ユーザーがPXI装置をより容易にコントロールすることを助け、テストプログラム開発をより促進することを可能とし、市場に製品を出すまでの時間を短くすることを助ける組み込みライブラリやツールなどのソフトウエアを用意しています。