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갤러리 보기 목록 보기 IC 픽 및 플레이스 핸들러 하이브리드 싱글 사이트 테스트 핸들러Model 3110 선택적인 3중 온도 IC 테스트 기능(표준: -40℃~135℃, 옵션: -55℃~150℃) FT + SLT 핸들러 - 투인원 기기 엔지니어링 특성 수집 및 분석에 매우 적합 자동 트레이 부하/하적 및 기기 정렬 기능 대기 시간이 없는 테스터 문의 카트에 추가 전체 범위 능동 열 제어 핸들러Model 3110-FT -40℃~125℃의 온도 테스트 최종 테스트 또는 시스템 레벨 테스트 3x3mm~45x45mm 패키지 문의 카트에 추가 테이블톱 싱글 사이트 테스트 핸들러Model 3111 이 머신은 테이블에 적합하도록 설계되었습니다. JEDEC 트레이(2) IC 패키지: 5x5mm~45x45mm 소프트웨어 구성 가능 비닝 문의 카트에 추가 RF 솔루션 통합 핸들러Model 3240-Q Chroma 3240-Q는 RF/무선 절연 챔버와 통합된 고유하고 혁신적인 핸들러입니다. 문의 카트에 추가 다이 테스트 핸들러Model 3112 신뢰할 수 있는 픽 앤 플레이스 베어 다이 테스트 핸들러 멀티 플레이트 입력 및 자동화된 테스트 정렬 기능 전방향 조절 가능 프로브 스테이지(X/Y/Z/) 스테이지 잔류 다이 확인 기능 문의 카트에 추가 3중 온도 쿼드 사이트 핸들러3160-C 고급 열 기능(Nitro TEC) 더 빠른 인덱스 시간 0.6초 능동 열 제어 및 전체 범위 온도 챔버리스 설계 여러 사이트(싱글, 듀얼 또는 쿼드 테스트 사이트) 지원 문의 카트에 추가 옥탈 사이트 테스트 핸들러Model 3180 최대 8배 병렬 테스트 사이트 최대 9,000 UPH 온도 테스트(주변) ~ 150 ℃ 문의 카트에 추가 자동 시스템 기능 테스터Model 3260 시스템 레벨에서 높은 볼륨/멀티 사이트 IC 테스트를 수행하기에 적합한 혁신적인 핸들러입니다. -40°C~125°C 범위의 ATC 고온에서 병렬식으로 최대 6개 기기를 테스트합니다. 문의 카트에 추가 축소형 IC 핸들러Model 3270 높은 볼륨/멀티 사이트 축소형 IC 테스트에 적합한 혁신적인 핸들러로 특히 시스템 레벨에서 CIS 테스트(CMOS 이미지 센서)를 수행하는 데 매우 적합합니다. 문의 카트에 추가 Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test ApplicationsModel 31000R Temperature range of -40°C to 150°C Compact footprint Self-contained – No external chiller required Liquid-free Operation 문의 카트에 추가
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