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웨이퍼 레벨 테스트

패키지 레벨 테스트

Modules & Accessories

웨이퍼 레벨 테스트

ShortPulsePhotonicsDeviceProbingTestSystem Model58636Series
Short Pulse Photonics Device Probing Test System
Model 58636 Series
  • Nanosecond-scale pulse driving and measurement
  • Drive heterogeneous integration samples like VoS (VCSEL on Silicon), and VoD (VCSEL on Driver) with digital control
  • Patented two-in-one optical head design fetches all LIV (Light-Current-Voltage), wavelength, and near-field optics analysis data in one touchdown
  • Multi-site and multi-die support enhance test efficiency

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광전자웨이퍼프로빙테스트시스템 Model58635Series
광전자 웨이퍼 프로빙 테스트 시스템
Model 58635 Series
  • 최대 6" 웨이퍼
  • QCW 및 CW 작동 모두 지원
  • LIV 테스트, 근거리 테스트, 원거리 테스트, LIV-λ & NF 투인원 테스트

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