LVDS(Low-Voltage Differential Signaling, 저전압 차동 신호)는 전자 신호 시스템의 한 종류로, 현재는 주로 LCD 패널에 사용됩니다. A291800은 LVDS 1 / 2 / 4 링크 출력을 지원하며, 링크당 최대 1050 Mbps 속도를 제공합니다. Chroma 2918 본체와 함께 사용하면 최대 4K@60Hz 해상도의 화면을 테스트할 수 있어, 사용자에게 다양한 해상도 검증 응용을 제공합니다.
A291800은 테스트용으로 6 / 8 / 10비트의 색상 깊이(Color Depth)를 선택할 수 있습니다. 예를 들어, 10비트 색심도는 각 기본 색상(R, G, B)이 1024단계(210)로 나뉘며, 약 10.7억 가지의 색상을 표현할 수 있습니다(210 R × 210 G × 210 B). 이를 통해 사용자는 검사 응용에 맞게 자유롭게 설정 및 편집할 수 있습니다.
LVDS 신호의 물리적 배선과 논리 신호 출력 간의 인코딩 정의 문제를 해결하기 위해, A291800은 Chroma 2918과 FPD Master 소프트웨어를 함께 사용하여 설정할 수 있습니다. 이 조합은 JEIDA(Japan Electronic Industry Development Association)와 NS(National Semiconductor) 두 가지 표준 모드를 지원하며, 수직 및 수평 동기 신호의 극성 시험과 좌/우 시프트 기능을 제공합니다. 이를 통해 물리적 배선을 변경하지 않고도 인코딩 정의를 조정할 수 있어, 특정 응용 설계에 유연하고 신속하게 대응할 수 있습니다.
*REF: Japan Electronic Industry Development Association & National Semiconductor
*예: 10비트의 경우
FPD Master 소프트웨어의 Link Change 기능은 물리적 케이블 연결과 논리 콘텐츠를 손쉽게 전환할 수 있는 편리한 스위치를 제공합니다. 사용자는 소프트웨어를 통해 Link 1~4의 내용을 편집하여, 배선을 재정렬하는 데 소요되는 시간을 절약하면서 실시간 검증과 디버깅을 수행할 수 있습니다.
다양한 데이터 매핑을 구현하기 위해 A291800은 여러 LVDS 신호 모드에서 분할, 배열 및 조합 기능을 지원합니다. 사용자는 1, 2, 4 링크 매핑과 좌/우, 홀수/짝수 등의 픽셀 모드를 선택할 수 있습니다.
전원, 신호 및 제어 핀은 최소 1ms 단위로 개별적으로 활성화할 수 있습니다. 사용자는 특정 요구 사항에 따라 전원, 신호 및 제어 핀의 종료 타이밍과 출력 선행/지연 타이밍을 설정할 수 있습니다.
정전기 방전(ESD, Electrical Static Discharge)은 전자 제품에서 반드시 해결해야 할 중요한 문제입니다. 정상적으로 동작하는 전자 제품이라도 ESD에 노출되면 불안정 현상, 오작동, 심지어 손상까지 발생할 수 있습니다. 집적회로가 생산 과정에서 ESD로 인해 손상되는 것을 방지하기 위해, A291800은 IEC/EN 61000-4-2 정전기 방전 보호 규격(공기 방전 15kV / 접촉 방전 8kV)을 준수합니다. 또한 내장된 ESD 보호 회로를 통해 완전한 방전 보호를 제공하여, ESD 충격 시 내부 회로의 손상을 예방합니다.
A291800은 온도 감지 기능(Temperature Sensing)을 갖추고 있어 모듈의 온도 변화를 모니터링하고 제어 유닛에 피드백합니다. 내부 온도가 상승하면 팬 속도가 자동으로 증가하고, 반대로 온도가 낮아지면 팬 속도가 감소합니다. 이러한 모니터링 방식을 통해 팬 유량을 자동으로 조절하여 작업 환경의 소음을 줄이는 동시에 장비의 최적 동작 온도를 유지하며, 기기의 수명을 연장합니다.
A291800은 2.54mm 박스 헤더(수 커넥터) 디자인을 채택하여 다양한 범용 애플리케이션에 적합한 안정적인 연결을 제공합니다.
차세대 패널 가변 주사율(Variable Refresh Rate) 기술을 활용하여, A291800은 고속 주사율의 장점을 활용하여 영상 갱신이 연속적으로 변화하는 상황에서 시험 대상 장치의 기능이 정상적인지를 검증할 수 있습니다. 이 장비는 Saw, Ramp, Square, Arbitrary의 4가지 검사 모드를 지원합니다. 표준 모드(Saw / Ramp / Square)에서는 1~50 단계(Steps)와 1~600초의 시간 간격을 설정하여 주사율(Refresh Rate)을 자유롭게 조정할 수 있으며, 임의 모드(Arbitrary Mode)에서는 최대 5개의 주기(Period)를 동시에 설정 및 전환할 수 있어 패널 주사율 시험 기능을 완벽하게 지원합니다. (옵션)
▲ SAW
▲ Ramp
▲ Square
▲ Arbitrary
일본 영상정보·텔레비전학회(The Institute of Image Information and Television Engineers)의 라이선스를 통해 다양한 4K 초고해상도 광색역 테스트 패턴을 제공합니다. (옵션)
본 기기의 응용 범위: 패널 제조업체, 구동 IC 설계, 수리 센터, PCB 보드 테스트, 자동화 검사 장비 업체, IC 에이징 테스트, 시연 및 시뮬레이션, 제품 검증 등.
Panel Manufacturer
Driver IC Design
Repair Center
PCB Substrate Testing
Automatic Testing
Equipment Manufacturer
IC Reliability Testing
Demonstration
Product Verification
