Chroma 19501-K 부분방전 테스터는 Hipot 테스트와 PD(부분방전) 감지 기능을 모두 지원합니다. 이 장치는 0.01uA ~ 300uA의 누설 전류 측정 범위와 1pC의 최소 부분 방전 감지로 최대 10kV AC의 출력을 제공할 수 있습니다. 이 테스터는 고전압 반도체 부품 및 절연 소재를 테스트하기 위해 특별히 개발되었습니다. 19501-K는 IEC 60270-1 및 IEC 60747-5-5 표준을 충족하며 IEC 60747-5-5 테스트 방법이 내장되어 있습니다. 이는 광 커플러 제품의 생산 테스트 요건을 충족시킬 뿐만 아니라 사용자에게 친근하고 편리한 작동 인터페이스를 제공합니다.
생산 라인에서 Hipot 테스트를 수행할 때 DUT와 테스트 회로 사이의 연결이 불량하면 테스트가 실패하거나 바이패스됩니다. 따라서 테스트하기 전에 DUT와 테스트 회로 사이의 연결이 양호한 상태인지 확인하는 것이 매우 중요합니다. HVCC(고전압 접촉 확인) 기능은 Hipot 테스트와 동시에 접촉 검사를 수행하여 테스트 신뢰성과 효율성을 향상시킵니다.
부분방전 테스터 Model 19501-K
주요 특징
- Hipot 테스트 및 PD 감지 기능을 하나의 기기에 통합
- 프로그래밍 가능한 전압 출력: 0.1KVac~10KVac
- 높은 정확도와 해상도의 전류 미터: 0.01uA~300uA
- PD(부분방전) 감지 범위: 1 pC~2000 pC
- 고전압 접촉 확인 기능(HVCC)
- IEC60747-5-5 및 IEC 60270-1 표준 준수
- 내장 IEC60747-5-5 테스트 방법.
- 3단계 전압 테스트 기능
- PD 테스트 결과 [pC] 디지털 디스플레이
- PD 불량발생 판정(1~10)을 위한 설정
- 그래픽 편집 기능
- USB 화면 캡처 기능
- 영어 및 중국어 간체/번체 작동 인터페이스
- 표준 USB, LAN, RS-232 & 핸들러 인터페이스
