致茂电子将于「台北国际电子产业科技展(TAITRONICS)」实机展出新量测方案，包括电源、电池、电动车与储能等测试解决方案，并运用数字科技结合在线展览与新产品发表，让因疫情而无法到访的国外访客也能如临其境，参与此国际盛会。
Chroma 3U/15kVA回收式电网仿真电源 功率密度领先业界
致茂新推出61809/61812/61815回收式电网模拟电源，以3U⾼的机体空间实现最⼤15kVA功率输出能⼒，为目前市场上功率密度领先的划世代交流电源，并具备单/三相输出模式、350VLN宽范围电压输出、200V~480V全球通⽤入电规格、以及100%能源回收功能等出⾊的硬件能⼒。全系列机种除了做为IT电源或电器产品的输入交流电仿真外，也可适⽤于新能源产业的各项电源测试应⽤，如：太阳能逆变器、储能系统(ESS)、电⼒调节系统(PCS)、微电网(Microgrid)、电⼒相关硬件回路仿真(PHIL)、电动⾞电源设备(EVSE)、⾞载充电器(OBC)及双向⾞载充电器(BOBC)等。
Chroma EV Propulsion System Power HIL解决方案 实现功率等级硬件在环测试
新型电驱动总成台架测试系统Chroma 1210与电池包整合测试系统Chroma 8610，具备新能源车动力总成与电池包相关零部件整合测试能力，包括电机、电机控制器、传动系统及电池包与模块等。支持Altair Activate车辆模型及各种Simulink Model-Based之实时数学模型导入，于电动车测试领域推进Digital Twin技术，并结合Chroma 电源负载与电池充放电机实现功率等级仿真输出，以达到动态实车工况仿真，同时可仿真系统异常状态并进行故障模式分析，降低产品开发风险并提升测试效率。
Chroma 17040 电池系统测试
Chroma 17040 能源回收式测试系统，可输出1000V高压及最大600kW功率，适用于储能方案中电池系统 (Battery Energy Storage System, BESS)的设计验证研究、进出货检验、生产测试、产品取证等用途。透过Chroma 17040系统，仿真电池系统在调频进行时，电力调节系统对电池系统的充放电行为，同时间检出电池芯在调频过程的各串电池芯的电压变化，查出电池系统组装质量的缺陷，避免电池芯过充或过放的状态缩短电池系统的循环寿命，是电池系统测试的利器。
Chroma 17010充放电测试系统搭配全新专业Battery LEx 软件
Chroma 17010充放电测试系统是专为锂离子电池芯信赖性测试所设计的解决方案，电压及电流涵盖范围分别为0~6V与200μA~1200A，有高达±0.015% of F.S.的电压精确度且电流可自动切换量程以维持测试精准度最高达±0.02% of F.S.，并具备全局性硬件防护措施保障安全以降低测试风险。使用者可依需求选择电流输出200μA~60A具低输出噪声与快速电流响应的系列、或电流输出可达100A~1200A及低耗能的双向能源回收系列。此外，更搭配全新软件Battery LEx，能透过多层配方架构与独立建立待测物数据库实现配方共享，并以群组式信道管理让测试状态更清晰，带来更弹性、便利且智能化的充放电测试操作，完成高效率的测试计划。
Chroma 11210锂离子电池芯注液前的局部放电侦测及绝缘检测
Chroma 11210电池芯绝缘测试机是专为锂离子电池电芯绝缘异常检出量身打造的绝缘测试机，特别设计「于高压量测过程中，能针对绝缘体内微小的局部放电(Partial Discharge)或电气闪络(Flashover)进行侦测与分析」，此功能可协助锂离子电池(干电芯)测量出在电解液填充前的有效绝缘距离是否足够，避免潜在不良品进入下一生产阶段或流入终端市场，相较于传统的绝缘测试，Chroma 11210电池芯绝缘测机提升锂离子电池驱动的电子电气产品的安全性至新的境界。
Chroma 19311 金属薄膜电阻雷射切割处的绝缘质量检测
金属薄膜电阻被普遍应用在如电动车、充电桩、太阳能/电源转换、回授/控制线路、等不同领域里做电压/电流控制或读取，或是做分压/分流使用。金属薄膜电阻的精准度能做的很精确是由于金属薄膜电阻可以使用雷射切割的方式调整电阻值，而如何确保金属薄膜电阻在正常工作条件下不会因为雷射切割处的绝缘质量不良或绝缘距离的不足而劣化造成电阻值改变，引起电动车或各种新能源应用之安全事故。Chroma 19311能为金属薄膜电阻提供一个对切割槽距检测足够高的测试电压(最高6kV)且不影响电阻质量之极短暂(<160uS)的脉冲测试，检测其是否有绝缘质量或绝缘距离不足的问题，确保其长久信赖性。
Chroma 19501-K功率半导体组件与散热基板间的局部放电检测
功率半导体组件于新能源的应用领域在绿能环境下的发展备受关注，如电动车、太阳能光电等大的工作电流与需求较高电压切换，除了本身具备良好的散热外更需考虑与散热基板间的绝缘耐压，如何确保功率半导体组件在正常工作条件下没有持续性局部放电造成安全质量疑虑成为重要的议题。Chroma 19501-K局部放电测试器能为您精准检测功率半导体组件在高电压工作下是否有连续性局部放电(PD in pC)发生，把关长期工作之质量与可靠性。
TAITORNICS台北国际电子产业科技展 (10月21‐23日)，致茂电子将于台北南港展览馆一馆1F (摊位号: J0410)展出多元的测试解决方案，我们诚挚的邀请您一同体验量测新趋势，并期待在此年度盛会中与您见面。