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Chroma老化测试设备,适用于高强度、信赖度之需求,可依客户需求打造串接或并接模式,提供长时间、耐温、具有延展性的不同系统规模,可搭配不同讯号接口: LVDS、eDP、TTL、SPI、MCU,系统软件具备可程序化的信号、电源、时序等功能,实时监控电压电流读值与侦测异常,并建置生产履历纪录,可依据各式老化炉体机构进行系统配置,帮助生产管理并提升效率,提供弹性化且完整的测试方案。

老化烧机测试方案

eDP信号图像产生卡 Model27010P-04+A270152
eDP信号图像产生卡
Model 27010P-04+A270152
  • OCP, OVP, UCP, UVP保护机制
  • 信号依循eDP 1.4规范标准
  • 支持1, 2, 4 Lane eDP输出
  • 支持2组独立AUX与HPD通道
LVDS信号图像产生卡 Model27010P-04+A270154
LVDS信号图像产生卡
Model 27010P-04+A270154
  • OCP, OVP, UCP, UVP保护机制
  • 信号依循LVDS规范标准
  • 支持1, 2, 4 CH LVDS输出
  • 可设定6, 8, 10 bits
图像产生卡 Model27010P-02+67396
图像产生卡
Model 27010P-02+67396
  • 同时支持4通道LVDS, TTL, SPI, MCU信号输出
  • 提供软件控管所有测试程序与信号电源参数
  • LVDS输出带宽可支持2 link 270 MHz x 4ch
  • TTL可支持至1366x768@60Hz
图像产生卡 Model2701007
图像产生卡
Model 2701007
  • 2 Channel sequence up to 270Mhz
  • VDD/VBL提供过电流保护机能
  • VBL/Vdim调光设定支援
  • LED显示目前之工作状态
图像产生卡 Model2701020
图像产生卡
Model 2701020
  • 2 Channel, 4 Channel Programmable
  • 可同时输出2 Channel/2组
  • 4 Channel sequence up to 330Mhz
  • LED显示目前之工作状态
eDPBIST模组 ModelA270149
eDP BIST模组
Model A270149
  • 支持eDP进入BIST模式设定信号
  • VDD, VBL电源设定提供
  • VDD, VBL提供过电流保护机能
  • 整合PG Master软件进行各参数设定
eDPGenerator ModelA270141
eDP Generator
Model A270141
  • 支持eDP进入BIST模式设定信号
  • VDD, VBL电源设定提供
  • VDD, VBL提供过电流保护机能