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Chroma老化测试设备，适用于高强度、信赖度之需求，可依客户需求打造串接或并接模式，提供长时间、耐温、具有延展性的不同系统规模，可搭配不同讯号接口： LVDS、eDP、TTL、SPI、MCU，系统软件具备可程序化的信号、电源、时序等功能，实时监控电压电流读值与侦测异常，并建置生产履历纪录，可依据各式老化炉体机构进行系统配置，帮助生产管理并提升效率，提供弹性化且完整的测试方案。
老化烧机测试方案
eDP信号图像产生卡
Model 27010P-04+A270152
- OCP, OVP, UCP, UVP保护机制
- 信号依循eDP 1.4规范标准
- 支持1, 2, 4 Lane eDP输出
- 支持2组独立AUX与HPD通道
LVDS信号图像产生卡
Model 27010P-04+A270154
- OCP, OVP, UCP, UVP保护机制
- 信号依循LVDS规范标准
- 支持1, 2, 4 CH LVDS输出
- 可设定6, 8, 10 bits
图像产生卡
Model 27010P-02+67396
- 同时支持4通道LVDS, TTL, SPI, MCU信号输出
- 提供软件控管所有测试程序与信号电源参数
- LVDS输出带宽可支持2 link 270 MHz x 4ch
- TTL可支持至1366x768@60Hz
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