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三温测试分类机
  • CE Mark
三温测试分类机
Model 3110-FT
  • Temperature Test from -40~125℃
  • Final Test or System Level Test
  • 3x3mm~45x45mm Package
桌上型单站测试分类机
  • CE Mark
桌上型单站测试分类机
Model 3111
  • 桌上型设计仅占较小空间
  • 可放置两个JEDEC料盘
  • 支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸
  • 可由软件接口设定分类数
  • 测试头内建气室,可吸收及减缓下压触力冲击
无线射频分类机
无线射频分类机
Model 3240-Q
3240-Q是一台独特且创新、整合了射频和无线隔离室之自动分类机
三温终端测试分类机
  • CE Mark
  • Taiwan Excellence
三温终端测试分类机
3160-C
  • 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器)
  • 更快的Index Time(0.6 sec)
  • 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
  • Chamber Less的设计
  • 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 sites)
八站逻辑测试分类机
  • CE Mark
八站逻辑测试分类机
Model 3180
  • 具有八个平行测试站点
  • 9Kpcs产能
  • 温度测试范围从常温到高温150℃
双用单站测试分类机
双用单站测试分类机
Model 3110
运用Pick & Place技术,将待测芯片由进料舱移至测试区,再依测试结果进行分类。不但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测试的能力。
晶片测试分类机
晶片测试分类机
Model 3112
具备单头与多头之适合量产的PnP自动化晶片测试分类机
三温系统板测试分类机
三温系统板测试分类机
Model 3260C
  • 高速可靠Pick&Place分类机
  • 同步吸嘴双取与双放设计
  • IC残留检测功能、通用治具设计
  • Nitro TEC主动式温控技术导入
  • 更快速的升降温反应速度
自动化系统功能测试机
自动化系统功能测试机
Model 3240
  • 4-sites
  • 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具
自动化系统功能测试机
自动化系统功能测试机
Model 3260
  • 6-sites
  • 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具
微型IC测试分类机
微型IC测试分类机
Model 3270
适合CMOS 影像感应元件 (CMOS Image Sensor, CIS)量产所需
CobraTemperatureForcingSystemforATE/SLTTestApplications
Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test Applications
Model 31000R
  • Temperature range of -40°C to 150°C
  • Compact footprint
  • Self-contained – No external chiller required
  • Liquid-free Operation