Chroma 58606是专为光电二极体设计的高密度、多功能、且具备温度控制的模块式烧机及可靠度测试系统。每个模块内建256个通道的SMU，可透过程式设定不同模式的电源输出与量测。每个系统最多可安装七层模块，共有1,792个SMU通道。

在ACC模式下，程式会将每个通道控制在预先设定的输出电流值，并达到长时间的稳定输出。即使被测物的内阻随着时间或温度产生波动，程式仍会控制SMU在整个烧机期间维持定值的电流输出。而被测物的电压值会在整个烧机期间定时的量测，并且记录下来，留待事后分析或作为出货的判断。

专利设计的加热板能够精确地控制子模块内的温度，同时有很好的稳定性与均温性。与烤箱或温控腔(oven or chamber) 类型的雷射二极体烧机系统比较，Chroma 58606的解决方案更加精简、容易操作，并具更佳的效能且更节省能源。使用加热板的好处是，雷射二极体不会受到ESD的干扰，更少的粉尘与异物污染，以及容易维护。

58606使用特殊探针，即使如APD般小至 70um的焊盘，也能确保接触。载具和针盘(DIB)会专为每个被测物进行订制，确保正确的接触对位以进行高精度探针接触。

用户可以在不同的子模块设定不同的温度，在不同的时间开始执行烧机测试，并设定不同的烧机时长。独立操作意味着每个子模块都可以设置不同的烧机条件，并且各子模块间互不干涉，提供给用户最多的弹性。

控制电路同时也包含雷射二极体的保护，不会有电流或电压的突波产生而伤害被测物；可设置各通道电流和电压的上下限保护，当触发上下限时，会即时关闭个别通道来保护被测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道仍可正常运作。除了将保护功能设计在控制电路内，通道间的绝缘(Isolation)与静电(ESD)保护也都包含在设计内。

老化测试资料储存在系统的电脑中，当模块与系统电脑通信暂时中断时，资料可暂存于模块中约6~8小时，通信恢复连线之后，暂存于模块中的资料可自动写入系统电脑，不会有资料遗失。