自动化系统功能测试机 Model 3260

自动化系统功能测试机
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产品特色
  • 可靠的高速Pick&Place分類機
  • 同步吸嘴雙取及雙放設計
  • 具備處理QFP的能力
  • 簡易編輯通訊定義(ECD)功能
  • 無測試座損壞的問題
  • 浮動頭可有效率衡測試壓力
  • IC殘留檢測功能
  • 發明專利字號190373, 190377, 1227324 & 125307
  • Thermal Control Configurations
    • Tri Temp Control
    • Close-Loop Active Thermal Control (ATC) Module
    • Unity PTC (Passive Thermal Control)
    • Cooling Pipe

Chroma 3260是一款新型的测试机可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。3260可配合多数不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封装。测试机采用取放的技术,可从JEDEC夹盘来拾取IC,移动到测试位置,然后将测试后产品放置于适当之Tray盘。

Chroma 3260以并排平行方式,进行测试。在高温下具有主动式温度控制(Active Thermal Control)功能,其范围从摄氏50度到125度可测试1至6个测试座。


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