晶片测试分类机 Model 3112

晶片测试分类机
晶片测试分类机
产品特色
  • 高信赖度之PnP自动化测试分类机
  • x4 多盘置入自动测试分类
  • 全方位(X/Y/Z/θ)可调式探针座模块
  • 测式座产品堆栈检测
  • x12输出分类盘可程序设定输出类别
  • 全程实时良率显示与控制
  • 全程探针接触状态显示(选配)

Chroma 3112具备单头与多头之适合量产的PnP 自动化芯片测试分类机,可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之芯片测试与分类。此设备透 过PnP方式将芯片自芯片盘加载至测试站中,精确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘中。其高效率的模块化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要求,多重检查功能装置可降低待测物发生异常的损坏。

芯片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升 生产效率、减少人力需求,同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外,其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降低生产成本。


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