LED 芯片点测系统 Model 58212-C

LED芯片点测系统
LED芯片点测系统
产品特色
  • 高速及高精度
  • 支援水平型,垂直型和倒装型芯片
  • 完整LED电性测试范围 (200V/2A)
  • 可支援到8英吋晶圆
  • Chroma大面积光侦测器
  • 强大的芯片位置扫描算法
  • 外部光屏蔽设计
  • 完整的分析工具和统计报告

Chroma 58212-C是一台自动化的LED外延片/芯片探针测试设备,提供快速、准确的LED测量测且整体量测时间<125ms。*1

系统的设计采用了灵活的设计为不同类型的LED结构包括横向型,垂直型和倒装芯片类型。用户可以选择合适的结构类型LED测量。完整扫描程序可提供独立的晶圆图以保证测试的精度。专利的探针头可防止待测物的刮伤并确保每一个LED接触。

透过Chroma独特的光学设计与元件可取得精确且稳定快速之光学数据如主波长、峰波长、色温等, 该系统具备完整之电性量测单元,无论顺向电压、漏电流、逆向崩溃电压等LED电性特性,均可于一次满足使用者的测试需求。

58212-C包含弹性调整的软体操作界面及先进的逻辑演算法使得生产效益大幅提升;完善的统计报表及分析工具可以让使用者用轻松掌握生产状况。

Note *1:测试条件在间距300um、5道电性测项、1道光学测项条件下取样。由于LED的特性的差异,测量结果可能会有所不同。

 测试项目

电源特性量测

  • Forward Voltage Measurement (Vf) 
  • Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb) 
  • Reverse Leakage Current (Ir) 
  • SCR Detection

光特性量测

  • Optical Power (mw, lm, mcd) 
  • Dominant Wavelength (Wd) 
  • Peak Wavelength (Wp) 
  • Full Width at Half Maximum (FWHM) 
  • CIExy - CCT - CRI

 硬体设备

  • 自动化 LED Wafer/Chip点测设备
  • 电性测试模组
  • 光学测试模组
  • 选配ESD测试模组

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