微型IC测试分类机 Model 3270

微型IC测试分类机
产品特色
  • 适合CMOS影像感应组件量产需求
  • 可靠的高速Pick&Place分类机
  • 3x3mm微型IC处理能力
  • 浮动头可有效率平衡测试压力
  • IC残留检测功能

 


Chroma 3270是一款创新的微型IC测试分类机,特别适合CMOS影像感应元件(CMOS Image Sensor, CIS)量产所需,Chroma 3270可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封装。 Chroma 3270采用Pick&Place技术,可从JEDEC夹盘来拾取IC,移动到 测试位置,然后将测试后产品置于适当之Tray盘。

Chroma 3270能同时处理32个待测物进行平行测试,并提供50˚C~125˚C高温测试选择。不但能提高产量,提升生产良率,同时大幅降低测试成本。


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