移动式高加速寿命测试机 Model Portable System HawQ

移动式高加速寿命测试机
产品特色
  • 温度范围:+200°C to -100°C
  • 振动加速度:4 - 40 gRMS
  • 具有安静的振动隔离和易于操作使用的系统
  • 适用几乎所有的开发团队/大学/研发和可靠性实验室
  • 低成本、便携式的解决方案
  • 提供易于使用的以太网/无线选项允许开发团队远程监控

 HawQ (专利申请中)

HawQ为许多公司的高度加速寿命测试(HALT)应用所开发,以快速提高他们电子产品设计的可靠性。在产品开发过程中进行加速可靠性测试是最有益的,因为当产品仍处于原型阶段时,可靠性最易提高。这个入门级HALT系统具有一个安静的振动隔离和易于使用的系统,非常适用几乎所有的开发团队/大学/研发和可靠性实验室。Qualmark的新型便携式HALT系统是一个低成本、便携式的解决方案,另提供易于使用的以太网/无线选项允许开发团队远程监控。

HawQ 规格

内部操作空间 482mm x 406mm x 254mm
外部尺寸 833mm x 1105mm x 1425mm
温度范围 +200°C to -100°C
振台尺寸 406mm x 304mm
振动加速度 4 - 40 gRMS(空平台)
振台载重 23千克
电源需求 220V (1Φ) 50/60Hz 40A
振动器 2个
温度变化速率 高于40°C/min

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