V-by-One信号接口广泛应用于大尺寸、高画质、高分辨率和高颜色深度与以往信号接口比较能减少信号线数，有助于降低成本达成轻量化，同时解决信号传输速度的高速化所带来的传输线之间信号的时滞问题达到高速远距离的目的。A291802信号模块遵循V-by-One HS V1.4规范标准，支持4 / 8 / 16 Lanes输出，最高传输速率3.75Gbps/lane，最高可扩充至64 Lane Count（4个A291802模块并联）同时进行输出，支持8K UHD（Ultra High Definition）影像输出，搭配Chroma 2918主机测试画面分辨率最高可至8K（8192 X 4320）@120Hz，提供用户多种弹性之组合检测方案。
A291802为达到各种显示画面的组成（Data Mapping），支持多种V-by-One信号模式在分割、排列、组合对应8 / 16 / 32 / 64Lanes，符合各种式样面板的Data Mapping设计。
颜色深度可支持6 / 8 / 10 bits供测试选择，例如色深10 bits指每一个原色被划分成1024级（210），约可呈现高达10.7亿种颜色（210 R* 210 G* 210 B），提供使用者自行编辑检测应用。
在信号传输的临界测试A291802支持32段Pre-Emphasis档位设定（0 / 0.22 / 0.45 / 0.68 / 0.92 / 1.16 / 1.41 / 1.67 / 1.94 / 2.21 / 2.50 / 2.79 / 3.10 / 3.41 / 3.74 / 4.08 / 4.44 / 4.81 / 5.19 / 5.60 / 6.02 / 6.47 / 6.94 / 7.43 / 7.96 / 8.52 / 9.12 / 9.76 / 10.46 / 11.21 / 12.04 / 12.96 dB），可仿真输出偏移标准信号之外，以进行待测物极限值的相关测试。
A291802支持16段Swing Level档位设定（253 / 316 / 377 / 439 / 499 / 561 / 621 / 682 / 743 / 799 / 857 / 909 / 959 / 1002 / 1043 / 1074 mV）在信号传输的临界测试，可仿真输出偏移标准信号，以进行待测物极限值的相关测试。
SSC（Spread Spectrum Clocking）展频频率信号，为降低设备本身产生的电磁干扰（Electromagnetic Interference，EMI），透过改变或分散信号在同频率的集中或时钟边际效应以减少峰值辐射功率，进而减少设备间的互相干扰，A291802内建中心展频（Center Spread）之SSC设定模式，提供开启/关闭30000 Hz的调变频率中0.5%范围。
在液晶屏幕的面板显示质量检测，A291802符合V-by-One HS V1.4规范标准，提供3 Bytes、4 Bytes、5 Bytes三种封包格式（Packet Type）的检测选择，使用者可依待测面板所需封包格式，设定A291802送出对应的格式信号，进而快速检视显示面板是否能正确点亮。
A291802配备温度感知（Temperature Sensing），监控模块温度之变化并回馈给至控制单元，当内部温度升高时温度传感器会随之提高风扇转速，反之则降低转速，以此监测方式自动调节风扇流速，减少工作环境之噪音并同时维持机体最佳运作温度，提高机器使用年限。
提供电源、信号、控制脚位各别独立启动，可编辑时序最小单位为1ms。用户自行设定电源、信号、控制脚位的输出领先/落后之时序，关闭时序亦可以依据使用者需求设定。
静电冲击对电子产品是需要解决的问题，正常操作的电子产品，一旦受到静电放电Electrical Static Discharge（ESD）作用时，常会出现一些不稳定的现象，甚至功能失常或损坏之情形等。为了避免集成电路在生产过程中被静电放电所损伤，A291802符合IEC/EN 61000-4-2静电防护能力（15KV Air / 8KV Contact Discharge），内建静电放电防护电路提供了ESD完整保护，以避免遭遇ESD冲击时对内部电路之损坏。
在新世代的面板可变更新率技术，可透过A291802的高速更新率优势进行产品在面对影像更新连续变化检测下确定待测物功能是否完善，配备4种检测模式分别为：Saw、Ramp、Square和Arbitrary，标准模式（Saw / Ramp / Square Mode）可设定1 ~ 50个Steps与时间间格1 ~ 600秒间可任意调整更新率（Refresh Rate），并且任意模式（Arbitrary Mode）最多可设定同时5个Period切换，涵盖完整的面板更新率测试功能。（选配）
▲ SAW
▲ Ramp
▲ Square
▲ Arbitrary
透过日本ITE协会(The institute of Image Information and Television Engineers)授权，可提供多种8K超高分辨率广色域测试图。(选配)
本机应用范围：面板制造厂商、驱动IC设计、维修中心、PCB基板测试、自动化检测设备商、IC老化测试、示范仿真、产品验证等。
Panel Manufacturer
Driver IC Design
Repair Center
PCB Substrate Testing
Automatic Testing
Equipment Manufacturer
IC Reliability Testing
Demonstration
Product Verification
