先进SoC测试系统 Model 3680

先进SoC测试系统
产品特色
  • 24个可互换插槽,用于数字、模拟和混合信号应用
  • 最高1Gbps数据速率
  • 最高2048 sites并行测试
  • 多达2048个数字通道管脚
  • 256 MW向量存储深度 (512 MW可选配) (X2模式)
  • 64通道高精度测量PMU
  • 各数字信道均内建TMU/PPMU/频率量测单元
  • SCAN最高64 chains/16G向量存储深度
  • 时序沿设置精度 (EPA) : ±150ps
  • 最高可使用128个DPS32通道
  • 高通道数HDADDA2混合讯号板卡可供选用
  • 高功率HCDPS模拟讯号板卡可供选用
  • 高效率HDAVO混合讯号板卡可供选用
  • 高通道数HDVI模拟讯号板卡可供选用*
  • 高通道数HDRF无线讯号板卡可供选用*
  • Direct probing系统*
  • Multi-time domain功能*
  • Microsoft Windows® 10操作系统
  • C#.NET和GUI程序设计界面
  • CRISPro 完整软件直观操作环境
  • 测试程序和测试向量兼容于其他平台
  • PIB 与 探针卡 兼容于其他平台
  • 支持 STDF 数据输出和自定义数据格式
  • 气冷式散热设计而且占地面积小
* 请洽Chroma业务办公室

半导体制造为一发展迅速前进的产业,必须高度集成越来越多的装置,同时又具备各种功能。半导体制造必须视为资本设备进行控管,才能使用于多个设备世代交替与应用领域,延长设备使用期限。

Chroma SoC测试系统3680提供灵活的配置和广泛的覆盖范围,以高度兼容性测试不同类型的设备。 3680测试系统可灵活地在24个通用插槽内部署多达2048数字通道管脚的数字信号,其数字性能高达1Gbps,最大的默认256MW向量内存,可在高速应用中提供出色的定时精准度±150ps EPA,并提供多种测试板选择,例如HDADDA2用于转换器测试、HDVI用于高电压和车用、混合信号HDAVO用于具有400MspsAWG和250Msps DIG的影像应用以及高精度24bits AWG和DIG的音频应用。

3680测试系统还含有AC、DC配电单元大型机柜和系统电源。提供可选购的测试头操纵器,可与自动搬运设备对接,达成测试与自动化的整合。

3680测试系统专为高产出和高并行测试能力而设计,可为无晶圆厂、IDM和测试机构提供最佳解决方案。3680具有完整的测试功能、高精度、强大的软体和出色的可靠性,是测试消费类装置、高性能微控制器、模拟设备和SoC的理想选择。

应用领域

  • 微控制器单元 (MCU)
  • 数字音讯 (Digital Audio)
  • 数字电视 (DTV)
  • 机顶盒 (STB)
  • 数字信号处理 (DSP)
  • 网络处理器和现场可编程门阵列 (FPGA)

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