VLSI 测试系统 Model 3380

VLSI测试系统
产品特色
  • 50/100 MHz 测试频率
  • 50/100 Mbps 数据速率
  • 1024 I数字信道管脚 (最高1280数字信道管脚)
  • 高达1024 sites 并行测试
  • 32/64/128 pattern 内存
  • 16M capture memory per pin
  • 多样化 VI 电源
  • 弹性化硬件架构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel trim/match 功能
  • 时序频率测试单位 (TFMU)
  • 高速时序测试单位 (HSTMU)
  • 支持STDF工具
  • 测试program/pattern转换器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
  • AD/DA功能板卡 (可选配)
  • SCAN向量存储深度(最高 2G bits/chain) (可选配)
  • ALPG 测试功能可供内存IC用 (可选配)
  • CRAFT C/C++ 程序语言
  • 软件接口与3380P/3360P相同
  • 人性化的Windows 7操作系统

为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势,Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台,包含 3380D、380P、3380机型,根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。

此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有最高1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O pin可同测1024个芯片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source)外,弹性化可调整的架构还可提供Mini&Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。

3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D(256pins)与3380P(512pins),以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上,长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。

 应用范围

  • 微控制器单元 (MCU)
  • ADC/DAC混和讯号IC
  • 逻辑IC
  • ADDA
  • ALPG
  • Smart Card
  • Mini&Macro LED驱动IC
  • CMOS影像传感器 (CIS)
  • 电源IC (Class D IC)
  • 消费性IC
  • LED驱动IC

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